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NI PXI-4132 源测量单元

NI PXI-4132是一款可编程、高精度的源测量单元(SMU),适用于集成电路、分立元件、PCB和电缆的高精度漏电测量。该模块具有单个隔离的SMU通道,提供了一个集成远程(4线)感测功能的四象限输出。它可以在高达100伏时高达至20mA操作,高达40 V高达70毫安,和高达20 V以高达100毫安。此外,该模块还具有高测量分辨率,能够以高达1千赫兹的速率进行测量。

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详细介绍

NI PXI-4132是一款可编程、高精度的源测量单元(SMU),适用于集成电路、分立元件、PCB和电缆的高精度漏电测量。该模块具有单个隔离的SMU通道,提供了一个集成远程(4线)感测功能的四象限输出。它可以在高达100伏时高达至20mA操作,高达40 V高达70毫安,和高达20 V以高达100毫安。此外,该模块还具有高测量分辨率,能够以高达1千赫兹的速率进行测量。

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NI PXI-4132是一款可编程、高精度的源测量单元(SMU),适用于多种应用场景,包括但不限于以下几个方面:

  1. 集成电路测试:用于测试集成电路的电压、电流、电阻等参数,确保其性能和可靠性。
  2. 分立元件测试:可以对各种分立元件进行测试,如二极管、晶体管、电容器等。
  3. PCB测试:用于测试PCB板的电压、电流、电阻等参数,确保其性能和可靠性。
  4. 电缆测试:可以对各种电缆进行测试,如电源线、信号线等。
  5. 漏电测量:用于测量电子设备的漏电情况,确保其安全性和可靠性。
  6. 源测量:提供高精度电压和电流源,可用于各种需要高精度电源的应用。

总之,NI PXI-4132是一款适用于各种电子设备的测试和测量应用的高性能、高精度源测量单元,具有广泛的应用前景。

SCXI-1141 (3).jpg

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