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ZYGO 8020-0450 干涉仪

ZYGO 8020-0450 是一款干涉仪,主要用于测量光学元件的面形精度和波面质量。它采用先进的干涉测量技术,具有高精度、高稳定性和可靠性,适用于各种光学元件的检测和质量控制。

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详细介绍

ZYGO 8020-0450 是一款干涉仪,主要用于测量光学元件的面形精度和波面质量。它采用先进的干涉测量技术,具有高精度、高稳定性和可靠性,适用于各种光学元件的检测和质量控制。

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ZYGO 8020-0450 干涉仪的主要特点包括:

  1. 高精度测量:采用先进的干涉测量技术,能够实现纳米级的高精度测量。
  2. 快速测量:具有高帧速的采集能力,能够快速获取光学元件表面的面形信息。
  3. 多功能:可以用于测量各种不同形状、材料和反射特性的光学元件。
  4. 可定制化:根据客户需求定制不同的配置和功能,满足特定的检测需求。
  5. 易于操作和维护:具有友好的用户界面和智能化的软件,方便操作和维护。

ZYGO 8020-0450 干涉仪的应用领域包括光学元件制造、光通信、光子学、激光技术等领域。它可以帮助客户提高产品质量、降低成本、缩短研发周期,是光学检测领域的重要工具之一。

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